![Von point electronic modernisiertes Rasterelektronenmikroskop REM Von point electronic modernisiertes Rasterelektronenmikroskop REM](/media/3551/sem_upgrade_kit_-_point_electronic_-_1280x420_2.png)
REM Modernisierung
Modernste Elektronik und Software für REMs, verlängert Geräte- und Garantiezeit
![](/media/1602/tem_controls.jpg)
TEM Modernisierung
Komplette Elektronik und Software für ZEISS EM 109/900 TEMs
![](/media/2551/ea_for_sem_-_point_electronic_-_1280x420.png)
REM Elektrische Analyse
quantitative Elektronik und Software für die Elektrische Analyse in SEM und FIB/SEM.
![](/media/2621/ea_for_tem_-_point_electronic_-_1280x420.png)
TEM Elektrische Analyse
In-situ-Bildgebung der elektrischen Aktivität im Nanomaßstab
![](/media/2681/electrical_failure_analysis_-_point_electronic_-_1280x420.png)
Elektrische Fehleranalyse
Equipment für Einstiegsstufe bis Spitzenklasse
![](/media/2726/bse_akquisition_-_point_electronic_-_1280x420.png)
BSE Bildaufnahme
System zur quantitativen Erfassung rückgestreuter Elektronen (BSE)
![](/media/2904/bse_topographie_-_point_electronic_-_1280x420.png)
Topographische Analyse
Live- und kalibrierte Höhenmessungen
![](/media/2937/3d_calibration_kit_-_point_electronic_-_1280x420-4.png)
3D Kalibrier Kit
Topographie-Kalibrierung für Elektronenmikroskope
![](/media/2771/electron_couting_-_point_electronic_-_12080x420.png)
STEM Counting
Low-Dose-Imaging mit Einzel-Elektronenzählung
![](/media/2746/image_acquisition_-_point_electronic_-_1280x420.png)
Digitale Signalverarbeitung
Digital Image Scanning System (DISS) für REM und TEM
![](/media/2477/custom_electronics_general_-_point_electronic_-_580x380.png)